pub手册4.6.5，描述了如何执行 BIST（内建自检） 测试的具体步骤，包括 DDR PHY 的测试初始化、配置和错误检查
BIST 示例测试序列
下面是每个步骤的详细说明：
1. 配置复位后 PHY 初始化
- 操作：在配置复位解除后，系统需要等待 PHY 完成初始化。
- 方法：通过轮询 PGSR0.IDONE 位，等到它的值变为‘1’，表示初始化完成。
- 注意：在等待 PHY 初始化时，可以同时配置其他 PUB（PHY 微控制器）寄存器。
- 原因：此步骤确保 PHY 在测试前已经准备好，类似于正常运行模式下的初始化过程。
2. 选择 DRAM 模式或 BIST 循环回路模式
DRAM 模式：
- 操作：向
PIR（PHY 初始化寄存器）写入以下设置：- 设置 PIR.INIT = 1，表示初始化 PHY。
- 设置 PIR.DRAMRST = 1（仅 DDR3）以重置 DRAM。
- 设置 PIR.DRAMINIT = 1 来初始化 DRAM。
- 操作：向
循环回路模式(Loopback)
- 操作：如果不需要 DRAM 模式，只需设置 PIR.INIT = 1 和 PIR.CTLDINIT = 1，表示跳过 DRAM 初始化。
原因：这一步确保选择正确的测试模式（DRAM 模式或循环回路模式）。
3. 等待 PHY 初始化完成
- 操作：等待 PHY 完成初始化，或者通过轮询 PGSR0.IDONE 位来确认初始化是否完成。
- 原因：确保 PHY 在开始 BIST 测试之前已经完全初始化。
4. 配置读 DQS 90 度偏移和门控设置
操作：可选择性地配置在 BIST 运行期间如何控制读 DQS（数据使能信号）的 90 度偏移和门控设置，通过写入
PGCR1.LBDQSS和PGCR1.LBGDQS。- 推荐：保持默认值，这样可以确保 DQS 信号正确对齐，并且在 BIST 循环回路测试期间 DQS 门控始终开启。
选择回路模式：在配置PGCR1寄存器时，还需要通过写入
PGCR1.IOLB选择使用 pad-side还是 core-side回路。- 推荐：使用 core-side 回路模式。
原因：确保数据在 BIST 期间正确对齐，避免数据捕获时的对齐问题。
5. 设置 BIST 生成的测试模式数量
操作：通过向 BISTWCR.BWNCT写入，设置要生成的模式数量。
- 默认值：默认值 32 个模式通常足以覆盖大部分测试。
原因：这一步是可选的，但可以根据需要配置测试模式的数量。
6. 确保地址/命令和I/O 接收器被供电
- 操作：如果计划使用 pad-side 回路，需要确保地址/命令 I/O 接收器已供电，可以通过向 ACIOCR0 写入 0x20000000 来确保这一点。
- 原因：地址和命令信号默认是关闭的，这一步确保它们在测试前被供电。
7. 重置 PHY FIFO
操作：通过写入
PGCR0.PHYFRST = 0来重置 PHY FIFO。- 等待：等待至少 8 个 cfg_clk 周期，以确保 FIFO 完全重置。
- 清除复位：通过写入
PGCR0.PHYFRST= 1 清除复位状态，准备好进行测试。
原因：确保 FIFO 中没有残留的坏数据或错误状态，避免影响 BIST 测试。
8. 触发 BIST 运行
操作：通过写入 3’b001到 BISTRR.BINST启动 BIST 测试。
其他配置：在触发 BIST 时，还需要配置 BISTRR 寄存器中的其他字段，如：
- 选择 循环回路模式 或 DRAM 模式。
启用 地址/命令通道 或 字节通道。
- 启用 数据掩码。
选择用于测试的具体 字节通道。
原因：这一步启动了 BIST 测试，并且确保其他配置正确设置。
9. 等待 BIST 完成
- 操作：通过轮询 BISTSR.BDONE 位，等待 BIST 测试完成，状态为 ‘1’。
- 原因：这一步确认 BIST 测试已成功完成。
10. 检查是否有错误
操作：通过读取 BISTWER.ACWER地址/命令通道错误）或 BISTWER.DXWER字节通道错误）来检查是否有错误。
- 如果没有错误，测试完成。
如果发现错误，进一步读取 BIST 错误寄存器，查看具体哪些信号发生了错误。
- 可选地，使用 BIST 调试模式寄存器 来帮助定位故障。
原因：确保在 BIST 测试中发现并处理任何错误。
关键操作总结：
- 初始化 PHY 并配置相关寄存器。
- 选择测试模式（循环回路模式或 DRAM 模式）。
- 触发 BIST 测试，等待完成并检查错误。
- 使用 BIST 调试寄存器 定位并调试可能的错误。
这些步骤确保 DDR PHY 的 BIST 测试能够正确运行，并在发现问题时提供调试信息。这为测试人员提供了一种灵活的方式来验证 DDR PHY 的功能，确保其在生产中的可靠性。
本文链接： https://talent-tudou.github.io/2024/11/05/DDR/PUB Architecture-BIST Example Test Sequence/
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